光學式物位測量儀表的代表是激光式物位計。與普通光一樣，激光也具有光的反射、透射、折射、干涉等特性，此外它還具有以下3個優點:
(1)能量集中，光強度大，因此物位測量范圍大，目前已達20m,
(2)激光單色性強，不易受外界光線干擾，能用于強烈陽光及火焰照射條件下的物位測量，甚至在1500℃的熔融物表面(如熔融玻璃)上亦能正常工作。
(3)激光光束散射小，方向性好，定點控制準確度高。
光學式物位計是一種比較古老的料位控制方法。一般只用來進行定點控制，工作方式采用遮斷式。這類物位儀表最簡單的模式是:發光光源(如燈泡)放在容器的一側，另一側相對光源處安裝接收器。當料位未達到控制位置時，接收器能夠正常接收到光信號。而當料值上升至控制位置時，光路被遮斷，接收器接收的信號迅速減小，電子線路檢測到信號變化后轉化成報警信號或控制信號。
普通光源具有亮度不高、傳輸距離近、光的單色性差以及易受外界干擾等缺點，所以控制準確度不高。給出激光料位計原理示意圖，其工作方式為遮斷方式。激光器采用砷化稼半導體為工作介質.經電流激發，調制發出波長為8.4x10-'m的紅外光束。光束經過透鏡后到達接收器，接收器由硅光敏三極管組成，當接收到激光照射時，光敏元件產生光電流。當有物料擋住光束時，在接收器上形成突變，線路終端愉出脈沖信號，經信號處理電路放大濾波后控制可控硅導通，繼電器工作，并發出報w信號。
使用時應注意，粉料在不斷升降過程中對透光孔和接收器光敏元件的粘附和堵塞，因此激光料位計通常不宜測量貓性大的料位。
